單位校正用 微米尺 / 標準片
|
||||||||||||||||||||||||
Graticules Optics專為顯微光學系統與影像量測系統提供一系列顯微鏡單位校正專用的載物台微米尺(Stage Micrometer)、校正用標準片(Calibration Standard)、加長型長度刻劃片與網格刻劃片(Long Scale and Grid)等光學尺度單位校正產品,亦可適用於光學相關的測量設備(Measuring Equipment)和計量儀器(Metrology Instrument)。 此外,Graticules Optics為服務客戶,針對旗下所銷售的校正用標準片相關產品,皆可以提供額外付費的長度校正服務並於出廠時隨貨附上可追溯源至UKAS和NPL國際標準的光學校正證書,可滿足NIST、DIN、DKD、Cofrac、Accredia、NABL和全球所有其他國家計量標準的要求,並符合ISO/IEC 17025和ANSI/NCSL Z540- 1實驗室品質管理一切規範。 對於精度要求標準較嚴格的ASTM B487標準規範,Graticules Optics仍然可以提供滿足此規範要求的NPL校正證書,確保載物台微米尺(Stage Micrometer)的校正不確定度為0.2µm。 Graticules Optics所有校正用產品均須按照嚴格的製造品質標準進行生產,為保證每一件產品都能夠具備高解析度的光學成像效果和滿足可追溯校正標準的要求,對於每條線段邊緣都會進行精準對位,並控管每條線段厚度的均勻性以確保產品擁有最佳的圖案完整性,絕非一般低價劣質的產品可比擬的。 客製化產品 - 如果您在產品列表中找不到適用的產品型號,歡迎您來電告知需求的詳細規格,我們可以提供協助尋找適合您應用的解決方案。 |
||||||||||||||||||||||||
|