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单位校正用 微米尺 / 标准片
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Graticules Optics专为显微光学系统与影像量测系统提供一系列显微镜单位校正专用的载物台微米尺(Stage Micrometer)、校正用标准片(Calibration Standard)、加长型长度刻划片与网格刻划片(Long Scale and Grid)等光学尺度单位校正产品，亦可适用于光学相关的测量设备(Measuring Equipment)和计量仪器(Metrology Instrument)。 此外，Graticules Optics为服务客户，针对旗下所销售的校正用标准片相关产品，皆可以提供额外付费的长度校正服务并于出厂时随货附上可追溯源至UKAS和NPL国际标准的光学校正证书，可满足NIST、DIN、DKD、Cofrac、Accredia、NABL和全球所有其他国家计量标准的要求，并符合ISO/IEC 17025和ANSI/NCSL Z540- 1实验室品质管理一切规范。 对于精度要求标准较严格的ASTM B487标准规范，Graticules Optics仍然可以提供满足此规范要求的NPL校正证书，确保载物台微米尺(Stage Micrometer)的校正不确定度为0.2µm。 Graticules Optics所有校正用产品均须按照严格的制造品质标准进行生产，为保证每一件产品都能够具备高解析度的光学成像效果和满足可追溯校正标准的要求，对于每条线段边缘都会进行精准对位，并控管每条线段厚度的均匀性以确保产品拥有最佳的图案完整性，绝非一般低价劣质的产品可比拟的。 客制化产品 - 如果您在产品列表中找不到适用的产品型号，欢迎您来电告知需求的详细规格，我们可以提供协助寻找适合您应用的解决方案。 |
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